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HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測(cè)試儀

日期:2025-04-20 10:58
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摘要:HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測(cè)試儀,這兩種測(cè)試施加于DUT(被測(cè)物)的作用幾乎是一樣的,然而測(cè)試的結(jié)果往往不同。Hipot測(cè)試通常包含2個(gè)測(cè)試端口,一個(gè)電壓源輸出端和一個(gè)回流端,測(cè)試回路中有泄露電流流過(guò),被測(cè)試儀器測(cè)量出來(lái)。

HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測(cè)試儀

耐壓測(cè)試VS擊穿測(cè)試,它們都有什么特點(diǎn)呢?
高壓(High-Potential)測(cè)試是一種非常通用的測(cè)試手段,可以用于各種不同的應(yīng)用場(chǎng)景。從研究、開(kāi)發(fā)和型式試驗(yàn),到下線**結(jié)構(gòu)測(cè)試,甚至包括維修后的檢測(cè)。

主要介紹兩種*常見(jiàn)的Hipot測(cè)試類型的區(qū)別,分別是耐壓測(cè)試和擊穿測(cè)試。
原理上,這兩種測(cè)試施加于DUT(被測(cè)物)的作用幾乎是一樣的,然而測(cè)試的結(jié)果往往不同。
Hipot測(cè)試通常包含2個(gè)測(cè)試端口,一個(gè)電壓源輸出端和一個(gè)回流端,測(cè)試回路中有泄露電流流過(guò),被測(cè)試儀器測(cè)量出來(lái)。

HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測(cè)試儀耐壓測(cè)試
耐壓測(cè)試是*常見(jiàn)的hipot測(cè)試類型。它包括施加一個(gè)預(yù)設(shè)好的電壓,通常是1000V或者更高。
測(cè)試(輸出)電壓作用于被測(cè)物的時(shí)間稱為持續(xù)時(shí)間(Hold time),時(shí)間長(zhǎng)短視具體應(yīng)用而定,從型式試驗(yàn)的幾分鐘到產(chǎn)線(常規(guī))測(cè)試的幾秒鐘。
通常,測(cè)試結(jié)果是通過(guò)還是失敗,取決于測(cè)量到的泄露電流的大小。如果泄露電流過(guò)大(超過(guò)設(shè)定好的觸發(fā)電流),則測(cè)試失敗并中止。

泄露電流的幅值通常在mA量級(jí),測(cè)試開(kāi)始前一般會(huì)設(shè)定泄露電流的閾值,來(lái)判定測(cè)試通過(guò)與否。同樣的,泄露電流的上限值設(shè)定為多少,取決于不同的應(yīng)用。對(duì)型式試驗(yàn)而言,泄露電流上限值多在100mA以內(nèi),測(cè)試是在更可控的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境進(jìn)行的。當(dāng)在產(chǎn)線進(jìn)行測(cè)試時(shí),限值通常低得多以確保測(cè)試人員的**,對(duì)于某些被測(cè)物,5mA以內(nèi)是可以接受的。

這類測(cè)試通常不具有破壞性,除非被測(cè)物原本已經(jīng)有絕緣**處,所以它是生產(chǎn)環(huán)境中常用的測(cè)試類型。然而,作為型式試驗(yàn)的一部分,更長(zhǎng)的測(cè)試時(shí)間可能弱化絕緣材料的完整性。因此,進(jìn)行過(guò)型式試驗(yàn)的的產(chǎn)品通常被認(rèn)為不適合出售。

HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測(cè)試儀擊穿測(cè)試
擊穿測(cè)試也是按上述的方法進(jìn)行的,然而,在這種特定測(cè)試中,是不設(shè)定電壓上限的,并且通常沒(méi)有持續(xù)時(shí)間。
擊穿測(cè)試中,電壓逐漸升高,直到被測(cè)物的絕緣性不再能承受這么高的電壓并被擊穿。這個(gè)電壓值就是絕緣體變成導(dǎo)電體的一個(gè)臨界電壓。

這個(gè)實(shí)例中的核心參數(shù)是擊穿出現(xiàn)時(shí)被記錄下來(lái)的電壓值。
如上所述,這類測(cè)試是屬于破壞性試驗(yàn),目的是迫使DUT達(dá)到擊穿點(diǎn)。因此,此類測(cè)試只在研發(fā)環(huán)境中進(jìn)行,不適用于常規(guī)測(cè)試,它會(huì)使被測(cè)物出于不**狀態(tài)。

結(jié)論
可以看出,這兩種測(cè)試方法在確定產(chǎn)品整體**性方面都占有一席之地,然而需要有正確的時(shí)間和地點(diǎn)來(lái)進(jìn)行這些測(cè)試??紤]到這一點(diǎn),很容易就明白為什么擊穿測(cè)試只適用于研發(fā)場(chǎng)景,而對(duì)于被測(cè)物在測(cè)試完依然按預(yù)期使用的情況,耐壓測(cè)試用于證明產(chǎn)品的**性更為合適。

HAL系列多功能綜合電器安規(guī)測(cè)試儀

HAL系列是德國(guó)GMC-Instruments集團(tuán)子公司英國(guó)SEAWARD公司研發(fā)和制造的一款綜合電器安規(guī)測(cè)試儀。因其功能強(qiáng)大、性能可靠和操作便捷等優(yōu)勢(shì),在電器行業(yè)有非常廣泛的應(yīng)用,尤其適用于需要批量測(cè)試的場(chǎng)合。

HAL系列有這五種型號(hào):HAL104/LED/103/102/101。多種測(cè)試功能合而為一。
保護(hù)導(dǎo)體測(cè)試:測(cè)試電流*大可至40A
絕緣電阻測(cè)試:測(cè)試電壓*大可調(diào)到6kV DC,電阻測(cè)試范圍到500MΩ
高壓測(cè)試:測(cè)試電壓*大可調(diào)到5kV AC,6kV DC,并可選擇ARC弧檢測(cè)
功耗測(cè)試:輸出功耗測(cè)試,低功耗測(cè)試,功率因數(shù)測(cè)量
泄露測(cè)試:泄露電流、接觸電流測(cè)試
小巧便攜,200W x 300H x 370D mm,15kg
用戶可根據(jù)自己的產(chǎn)品測(cè)試要求,選擇合適的型號(hào)。